?東莞鋁陽(yáng)極氧化膜厚度測(cè)試的要求主要基于不同的標(biāo)準(zhǔn)和應(yīng)用場(chǎng)景,以下是一些關(guān)鍵要求和詳細(xì)解釋:
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①國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 5237.2-2008《建筑用鋁型材》中規(guī)定,陽(yáng)極氧化膜厚度應(yīng)≥10μm。
YY/T 0019-2010《醫(yī)用鋁制品》中也規(guī)定,陽(yáng)極氧化膜厚度應(yīng)≥10μm,且應(yīng)滿足醫(yī)用要求。
ISO 7599:2010(國(guó)際標(biāo)準(zhǔn))同樣要求陽(yáng)極氧化膜厚度應(yīng)≥10μm,且應(yīng)根據(jù)使用要求進(jìn)行測(cè)試和驗(yàn)證。
MIL-A-8625E(美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn))則規(guī)定陽(yáng)極氧化膜厚度應(yīng)≥5μm。
②測(cè)試方法:
渦流測(cè)厚儀:利用高頻電磁場(chǎng)使膜層下的鋁合金產(chǎn)生渦流,通過(guò)渦流產(chǎn)生的交變電場(chǎng)改變探頭參數(shù)來(lái)顯示氧化膜厚度。這種方法方便快捷,是品管人員主要的檢測(cè)方法。
電壓擊穿法:使用專用電壓擊穿儀測(cè)量氧化膜被擊穿的電壓值,直接在儀表上讀出氧化膜厚度。
金相試片觀察法:切取陽(yáng)極氧化過(guò)的鋁型材試片,用金相試片的方法處理后,在顯微鏡下觀察氧化膜厚度。這是直接測(cè)量氧化膜厚度的方法。
光學(xué)測(cè)量法:利用光學(xué)原理,通過(guò)測(cè)量反射光強(qiáng)度變化來(lái)確定鋁氧化膜厚度。操作簡(jiǎn)便、速度快,但受試樣表面粗糙度、顏色等因素影響較大。
電解液測(cè)量法:將鋁氧化膜作為電解質(zhì),通過(guò)測(cè)量陽(yáng)極溶解速率來(lái)推算膜厚。適用于厚度較大的鋁氧化膜測(cè)量,但操作復(fù)雜。
原子力顯微鏡測(cè)量法:通過(guò)掃描探針顯微鏡對(duì)鋁氧化膜表面形貌進(jìn)行觀察,從而計(jì)算出膜厚。具有高分辨率、高精度等特點(diǎn)。
③特殊要求:
對(duì)于某些特定應(yīng)用,如太陽(yáng)能邊框鋁型材,其氧化膜厚度一般要求是AA15,即15μm。
隨著技術(shù)的發(fā)展,對(duì)陽(yáng)極氧化處理的壓鑄件外觀質(zhì)量要求越來(lái)越高,如硬質(zhì)陽(yáng)極氧化的膜厚可能達(dá)到0.05mm。
④測(cè)試環(huán)境和條件:
在進(jìn)行鋁陽(yáng)極氧化膜厚度測(cè)試時(shí),需要確保測(cè)試環(huán)境符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),如溫度、濕度等條件應(yīng)控制在一定范圍內(nèi)。
測(cè)試設(shè)備應(yīng)定期進(jìn)行校準(zhǔn)和維護(hù),以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。